24.05.2026
Обработка полупроводниковых материалов низковольтным ионно-лучевым травлением под контролем сканирующего электронного микроскопа для анализа отказов в передовых технологиях.
Узнайте, как ZEISS Crossbeam 750 FIBSEM устанавливает новый стандарт для точной подготовки ламелл для ТЭМ, томографии и передовых методов…